国产半导体电性能测试设备

详情描述：

普赛斯国产半导体电性能测试设备优点：
同时晶确提供和测量电压和/或电流；
    同步测量，减少测试时间
提供和测量非常广的电流和电压；
    电压测试范围-30uV～300V,电流测试范围-10pA～3A
支持运行用户脚本程序，无需电脑控制，提高生产测试速度；
    序列测试，简化操作，降低成本
采用用户熟悉的图形界面，不管用户经验是否丰富，使用起来都非常简便；
    触屏操作
 
与传统电源比：
电源过零需要改变线连接方式；
     增加需反复开关机械开关，降低了设备可靠性
电压电流限制精度有限；
电压1%，电流10mA

与电源结合万用表组合比：
万用表电源组合需要编程实现设备控制及同步；
     复杂连线、编程开发
电源限压限流性能差
      限压限流精度低，瞬态特性也无法保证
P型国产半导体电性能测试设备应用优势：
1、多功能测量需求下的广泛的适应性，电压高达300V，电流低至10pA；
2、实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率。
3、具备对测试器件的保护功能，可进行自我限制，避免因过充而造成的对测试器件的损害；
晶确的电压电流限制功能，为器件提供完善的保护功能，避免器件损坏。
4、触屏图形化操作，使用简单。开放式平台，可根据实际应用的需求而针对性的开发软件。
脉冲源表特点  
?5寸触摸显示屏全图形化操作                         
?内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV
?源及测量的准确度为0.03%
?四象限工作（源和阱），源及测量范围广：电流低至1pA，电压高至300V
?Z小脉冲宽度200μs
?丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
?支持USB存储，一键导出测试报告
?支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网        

提供的应用程序
- 序列扫描
- 数据记录仪：持续输出恒压源测试模式；持续输出恒流源测试模式
- APD管
- 晶体管：MOSFET 管测试；三极管测试
- LIV：PIN 管扫描测试
-  波形发生器：设置正弦波、三角波、方波、锯齿波四种波形；直流模式输出和脉冲模式输出；可以设置自定义序列
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武汉普赛斯仪表有限公司 陶女士
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