LJZ型双列集成电路老化测试插座

详情描述：

LJZ型双列集成电路老化测试插座
该系列插座适用于DIP封装的双列直插式集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯
 产品型号及规格； 
 LJZ-8J、14、16、18、24、28、40
主要技术指标； 
 间距；2.54mm            环境温度；-55℃— 155℃ 
 接触电阻；≤0.01欧      工作电压；DC500V 
 单脚插入力；≤0.2Kg     弹片金层厚度；1um镍3um金